Artium是美國的一家高科技公司。主要生產(chǎn)相們多普勒干涉儀、相位多譜勒干涉儀傳感器、噴墨液滴測(cè)量儀、粒子成像儀、激光多普勒測(cè)速儀等。

美國Artium主要產(chǎn)品型號(hào)如下，歡迎咨詢選購：

美國Artium PDI模塊化系統(tǒng)

美國Artium IDM噴墨液滴測(cè)量儀：用于噴墨開發(fā)、測(cè)試、監(jiān)測(cè)、校準(zhǔn)和質(zhì)量控制測(cè)量。已驗(yàn)證的能力：

? 實(shí)時(shí)快速準(zhǔn)確地測(cè)量液滴流 ? 每個(gè)液滴的液滴大小、速度和軌跡角度測(cè)量 ? 非常高的液滴大小和速度分辨率和準(zhǔn)確性（液滴大小至+/-0.05微米，速度至+/-0.05毫米/秒） ? 液滴體積可達(dá)到0.0005皮升（液滴大小為1微米） ? 允許對(duì)大量噴墨液滴流進(jìn)行連續(xù)掃描以進(jìn)行質(zhì)量控制 ? 高度發(fā)展的硬件和軟件，便于與噴墨打印機(jī)系統(tǒng)集成 ? 使用相對(duì)低功率激光器的非常緊湊和穩(wěn)定的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)以確保安全 ? 可以在噴嘴出口附近以及下游位置進(jìn)行測(cè)量 ? 高可靠性地測(cè)量透明液滴和/或含有固體材料的液滴 ? 允許測(cè)量以確保液滴在目標(biāo)材料上的完美位置

測(cè)量方法：IDM儀器基于相位多普勒干涉法。相位多普勒干涉法使用光的波長作為測(cè)量標(biāo)尺，通過光頻多普勒頻移和散射光的相移來測(cè)量液滴速度和液滴大小。我們的工程師已經(jīng)為廣泛的應(yīng)用開發(fā)了這種方法，包括燃料噴射燃燒、飛機(jī)云層測(cè)量、可吸入醫(yī)療氣溶膠等眾多應(yīng)用。

美國Artium PDI-TKI PD1墨滴測(cè)量儀

美國Artium PDI-TK2墨滴測(cè)量儀

美國Artium PDI飛行探測(cè)器

美國Artium PDI-FP 雙量程可機(jī)載飛行探頭，

美國Artium PDI-FPDR 環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器

美國Artium PDI飛行探測(cè)器-雙量程

美國Artium PI粒子、液滴和冰晶測(cè)量系統(tǒng)

美國Artium PI飛行探測(cè)器

美國Artium減震儀

美國Artium LDV激光多普勒測(cè)速儀：料子速度和湍流測(cè)量 激光相位多普勒干涉儀LDV，PDI，PDPA，PDA，MODEL PDI 

美國Artium 激光多普勒測(cè)速儀 PDI-X00MD：模塊化系統(tǒng)，對(duì)不同的應(yīng)用提供靈活的配置；可以提供1維，2維和三維的速度測(cè)量系統(tǒng)；

美國Artium 激光多普勒測(cè)速儀 PDI-X00SC：固定光路布置的獨(dú)立系統(tǒng)，非常方便進(jìn)行不同應(yīng)用下的開發(fā)和測(cè)試

PDI-Comp SC：簡潔獨(dú)立系統(tǒng)，用于對(duì)噴霧器、吸入器等小的噴流應(yīng)用的測(cè)量研究

PDI-FP：設(shè)計(jì)簡潔、對(duì)外界嚴(yán)酷環(huán)境有強(qiáng)大的適應(yīng)性的系統(tǒng)，用于大型風(fēng)洞或者直接裝載在飛行器上對(duì)外界環(huán)境進(jìn)行測(cè)量

美國Artium LII：于用煙塵表征的激光誘導(dǎo)白熾燈分析儀器