Kammrath & Weiss 是一家德國(guó)公司，專注于高精度測(cè)試和測(cè)量設(shè)備，特別是在材料科學(xué)、微力學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域。其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)領(lǐng)域，包括力學(xué)測(cè)試、環(huán)境模擬和電學(xué)測(cè)試等。

以下是 Kammrath & Weiss 的一些主要產(chǎn)品系列和型號(hào)，歡迎咨詢選購：

1. 力學(xué)測(cè)試設(shè)備

用于材料力學(xué)性能的測(cè)試和分析。

Tensile/Compression Testers（拉伸/壓縮測(cè)試儀）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss T1000（小型拉伸/壓縮測(cè)試儀）。

Nanoindentation Systems（納米壓痕系統(tǒng)）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss Nanoindenter（用于微觀力學(xué)性能測(cè)試）。

Shear Testers（剪切測(cè)試儀）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss Shear Tester（用于材料剪切性能測(cè)試）。

2. 環(huán)境模擬設(shè)備

用于模擬極端環(huán)境條件下的材料性能測(cè)試。

Temperature Chambers （溫度試驗(yàn)箱）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss TCC（溫度控制箱，支持 -150°C 至 +300°C）。

Humidity Chambers （濕度試驗(yàn)箱）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss HCC（濕度控制箱，支持 10% 至 98% RH）。

Cryogenic Test Systems（低溫測(cè)試系統(tǒng)）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss Cryo System（用于極低溫環(huán)境下的材料測(cè)試）。

3. 電學(xué)測(cè)試設(shè)備

用于材料的電學(xué)性能測(cè)試。

Dielectric Testers（介電測(cè)試儀）

 型號(hào)示例：Kammrath & Weiss DTS（介電測(cè)試系統(tǒng)）。

Impedance Analyzers（阻抗分析儀）

 型號(hào)示例：Kammrath & Weiss Impedance Analyzer（用于材料阻抗特性測(cè)試）。

4. 多功能測(cè)試系統(tǒng)

結(jié)合力學(xué)、電學(xué)和環(huán)境模擬的多功能測(cè)試設(shè)備。

Combined Test Systems（組合測(cè)試系統(tǒng)）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss CTS（多功能測(cè)試系統(tǒng)，支持力學(xué)、電學(xué)和環(huán)境模擬測(cè)試）。

5. 顯微鏡和光學(xué)設(shè)備

用于微觀結(jié)構(gòu)的觀察和分析。

Optical Microscopes（光學(xué)顯微鏡）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss OM（高分辨率光學(xué)顯微鏡）。

Confocal Microscopes共聚焦顯微鏡）

 型號(hào)示例：Kammrath & Weiss Confocal Microscope（用于三維微觀結(jié)構(gòu)分析）。

6. 特殊應(yīng)用設(shè)備

Micro-Manipulators（微操作器）

型號(hào)示例：Kammrath & Weiss Micro-Manipulator（用于微觀樣品的精確操作）。

Sample Holders（樣品夾具）

  型號(hào)示例：Kammrath & Weiss SH（適用于各種測(cè)試的樣品夾具）。