Bruker Corporation 是全球領(lǐng)先的科學(xué)儀器制造商，1960年成立于德國(guó)，總部位于美國(guó)比勒瑞卡（Billerica），在瑞士設(shè)有重要研發(fā)中心。公司專注于 高端分析儀器，產(chǎn)品覆蓋納米表面科學(xué)、分子光譜、質(zhì)譜和磁共振技術(shù)，以 原子力顯微鏡（AFM） 和 X射線儀器 聞名。

Dimension Icon 系列（原子力顯微鏡）產(chǎn)品：

Dimension Icon 是 Bruker 的 旗艦級(jí)原子力顯微鏡（AFM），提供 納米級(jí)表面形貌、力學(xué)性能和電學(xué)特性 測(cè)量，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物研究和納米技術(shù)。

1. 標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)與配置

2. 核心技術(shù)特點(diǎn)

• PeakForce Tapping?：

• 取代傳統(tǒng)輕敲模式，直接控制探針-樣品作用力（低至 10 pN），減少樣品損傷。

• ScanAsyst? 自動(dòng)優(yōu)化：

• 智能調(diào)節(jié)掃描參數(shù)，無需手動(dòng)設(shè)置。

• NanoElectrical Suite：

• 支持 導(dǎo)電AFM（C-AFM）、開爾文探針（KPFM）、壓電力顯微鏡（PFM）。

• 環(huán)境控制：

• 可選 液體池、溫控模塊、真空腔，適應(yīng)生物活體或極端條件測(cè)試。

3. 可選配件與擴(kuò)展功能

1. 探針類型：

• SCANASYST-AIR（標(biāo)準(zhǔn)硅探針）

• RTESPA-300（高分辨率探針，針尖半徑<8 nm）

• PFQNE-AL（PeakForce 定量納米力學(xué)探針）

2. 軟件模塊：

• NanoScope Analysis：3D形貌重建與數(shù)據(jù)分析。

• NanoMan?：支持納米刻蝕與操縱。

3. 聯(lián)用技術(shù)：

• 與 拉曼光譜（AFM-Raman） 或 光學(xué)顯微鏡 聯(lián)用。

4. 應(yīng)用場(chǎng)景

• 半導(dǎo)體工業(yè)：

• 晶體管柵極氧化層厚度測(cè)量、缺陷定位。

• 生物醫(yī)學(xué)：

• 細(xì)胞膜力學(xué)性能、蛋白質(zhì)相互作用力映射。

• 能源材料：

• 鋰電池電極表面退化分析、鈣鈦礦太陽能電池形貌表征。

• 二維材料：

• 石墨烯、MoS? 的層數(shù)識(shí)別與電學(xué)性質(zhì)測(cè)量。

總結(jié)

• Dimension Icon 系列 是 Bruker AFM 技術(shù)的集大成者，通過 模塊化設(shè)計(jì) 滿足從基礎(chǔ)形貌到多功能物性測(cè)量的需求。

• 全系支持 自動(dòng)化操作 和 高環(huán)境適應(yīng)性，是納米科學(xué)研究與工業(yè)質(zhì)量控制的理想工具。

  
  

（注：1 nm = 10?? m；pN = 皮牛頓，10?12 N。）

其他注意事項(xiàng)：

更詳細(xì)的技術(shù)資料需通過提供項(xiàng)目詳情獲取，歡迎咨詢。

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